Search Results (All Fields:"velocidad", Date:" [2006\-01\-01T00\:00\:00Z TO 2006\-12\-31T00\:00\:00Z] ")

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Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad. (Requiere Plataforma Electronics Workbench 5.1 ó superior)  0.99 425 65
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad..2 (Requiere Plataforma MicroCAP 9.0 ó superior)  0.91 326 57
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad..1 (Requiere Plataforma MicroCAP 9.0 ó superior)  0.91 346 78
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad. (Requiere Plataforma OrCAD 9.1 ó superior)  0.91 371 90
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad..3 (Requiere Plataforma MicroCAP 9.0 ó superior)  0.91 316 75
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad. (Requiere Plataforma OrCAD 9.1 ó superior)  0.91 342 70
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad. (Requiere Plataforma OrCAD 9.1 ó superior)  0.91 345 67
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad..4 (Requiere Plataforma MicroCAP 9.0 ó superior)  0.91 344 78
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad. (Requiere Plataforma OrCAD 9.1 ó superior)  0.91 302 69
Diseño por el método de los sistemas secuenciales síncronos y con biestables JK el control de velocidad..1 (soluc. alternativa) (Requiere Plataforma MicroCAP 9.0 ó superior)  0.91 333 74
Dan, Markcilei Lima and Loeffler, Carlos Friedrich . (2006) Formulação híbrida do método dos elementos de contorno para problemas difusivos-advectivos.  0.60 418 361
Amaro, Ana M., Cirne, José S., Rilo, Nuno F., Vaz, Mário and Monteiro, J. . (2006) Utilização de técnicas de interferometria holográfica na detecção de defeitos em compósitos laminados.  0.55 392 79