Las mediciones electrónicas: tecnología compleja. Empleo de los mapas conceptuales

Roche, C.(03/0) .Las mediciones electrónicas: tecnología compleja. Empleo de los mapas conceptuales. .En: . ()

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Nombre Descripción Tipo MIME Size
S2A02.pdf /papers/2008S2A02.pdf application/pdf
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Titulo Las mediciones electrónicas: tecnología compleja. Empleo de los mapas conceptuales
Autor(es) Roche, C.
Materia(s) análisis tecnológico
electrónica
Instrumentación
medición
tratamiento
Resumen La metodología de análisis y descripción de una tecnología compleja puede estar facilitada por dos procesos complementarios: el análisis basado en la división de la tecnología en niveles, la detección de los elementos que los componen y los conceptos asociados con ellos; y el proceso de representación basado en mapas conceptuales. Esta comunicación resumen los aspectos esenciales a tomar en cuenta al abordar la asignatura Mediciones Electrónicas, asumiéndola en el terreno de las tecnologías complejas.
Editor(es) Universidad Central “Marta Abreu”de Las Villas. Cuba
Fecha 03/07/2008
Formato application/pdf
Identificador ../papers/2008S2A02.pdf
taee:congreso-2008-1032
Idioma es
Versión de la publicación publishedVersion
Nivel de acceso y licencia info:eu-repo/semantics/openAccess
http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
Tipo de recurso conferenceObject
Tipo de acceso Acceso abierto

Tipo de documento: Ponencia de Congreso
Collections: Set de openaire
Set de ponencias
Congreso TAEE año 2008
Instrumentación II
 
Versiones
Versión Tipo de filtro
Contador de citas: Google Scholar Search Google Scholar
Estadísticas de acceso: 212 Visitas, 392 Descargas  -  Estadísticas en detalle
Creado: Fri, 02 Oct 2009, 05:30:46 CET