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Author Name
Alcubilla, R.
(2)
Martín, I.
(2)
Orpella, A.
(2)
Puigdollers, J.
(2)
Vetter, M.
(2)
Published Date
1970
(10)
Display Type
Ponencia de Congreso
(10)
Berenguer, R.
,
García-Alonso, A.
,
Gutiérrez, I.
,
Sancho, I.
,
Solar, H.
y
Valderas, D.
(
1970
) .
Técnicas de aprendizaje en el laboratorio de medidas e instrumentación para la caracterización de circuitos de radio frecuencia (RF).
.
.En: . ()
4.20
592
1100
Alcubilla, R.
,
Martín, I.
,
Orpella, A.
,
Puigdollers, J.
,
Vetter, M.
y
Voz, C.
(
1970
) .
Tecnología electrónica de semiconductores orgánicos: fabricación de transistores en aulas docentes
.
.En: . ()
4.17
503
1238
Ayala, A.
,
González, O.
,
Magdaleno, E.
y
Rodríguez, M.
(
1970
) .
Experiencias de laboratorio para la caracterización de modulaciones analógicas
.
.En: . ()
3.84
510
448
Jiménez, J.A.
y
Meca, F.J.
(
1970
) .
Aplicación de la instrumentación programable y los sistemas de adquisición de datos a la caracterización y test de circuitos electrónicos
.
.En: . ()
3.84
560
557
Cabello, R.
,
Gómez-Arribas, F.J.
,
González, I.
,
López, J.
,
Martínez, J.
y
Sánchez, J.
(
1970
) .
Evaluación de un laboratorio web como complemento de un curso de electrónica básica
.
.En: . ()
3.77
573
273
Alcubilla, R.
,
Martín, I.
,
Orpella, A.
,
Puigdollers, J.
,
Vetter, M.
y
Voz, C.
(
1970
) .
Tecnología electrónica de semiconductores orgánicos: fabricación de dispositivos en aulas docentes
.
.En: . ()
3.74
465
379
Alcaraz, G.
y
Baturone, I.
(
1970
) .
Xfmas:Una herramienta de ayuda al modelado y diseño de circuitos integrados
.
.En: . ()
3.74
458
388
Allende, M.A.
,
Bracho, S.
,
Martínez, M.
y
Mozuelos, R.
(
1970
) .
Laboratorio remoto de test: Caracterización de un convertidor analógico – digital
.
.En: . ()
3.47
581
374
Echevarría, A.
,
Oleagordía, I.J.
,
Ortiz, J.
y
Sánchez, M.
(
1970
) .
Instrumentación programable vía GPIB para la caracterización y test de circuitos electrónicos
.
.En: . ()
3.47
554
275
Azcondo, J.
,
Brañas, C.
,
Salvador, F.
y
Valderrama, M.
(
1970
) .
Automatización de un banco de pruebas para la caracterización de balastos electrónicos y lámparas de descarga mediante LabView
.
.En: . ()
3.14
641
1540