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Author Name
Alcubilla, R.
(2)
Martín, I.
(2)
Orpella, A.
(2)
Puigdollers, J.
(2)
Vetter, M.
(2)
Display Type
Ponencia de Congreso
(10)
Collection
Set de ponencias
(10)
Set de openaire
(10)
Berenguer, R.
,
García-Alonso, A.
,
Gutiérrez, I.
,
Sancho, I.
,
Solar, H.
y
Valderas, D.
(
1970
) .
Técnicas de aprendizaje en el laboratorio de medidas e instrumentación para la caracterización de circuitos de radio frecuencia (RF).
.
.En: . ()
3.81
584
1099
Alcubilla, R.
,
Martín, I.
,
Orpella, A.
,
Puigdollers, J.
,
Vetter, M.
y
Voz, C.
(
1970
) .
Tecnología electrónica de semiconductores orgánicos: fabricación de transistores en aulas docentes
.
.En: . ()
3.77
499
1238
Ayala, A.
,
González, O.
,
Magdaleno, E.
y
Rodríguez, M.
(
1970
) .
Experiencias de laboratorio para la caracterización de modulaciones analógicas
.
.En: . ()
3.34
507
447
Jiménez, J.A.
y
Meca, F.J.
(
1970
) .
Aplicación de la instrumentación programable y los sistemas de adquisición de datos a la caracterización y test de circuitos electrónicos
.
.En: . ()
3.34
556
554
Cabello, R.
,
Gómez-Arribas, F.J.
,
González, I.
,
López, J.
,
Martínez, J.
y
Sánchez, J.
(
1970
) .
Evaluación de un laboratorio web como complemento de un curso de electrónica básica
.
.En: . ()
3.25
571
273
Alcaraz, G.
y
Baturone, I.
(
1970
) .
Xfmas:Una herramienta de ayuda al modelado y diseño de circuitos integrados
.
.En: . ()
3.22
457
376
Alcubilla, R.
,
Martín, I.
,
Orpella, A.
,
Puigdollers, J.
,
Vetter, M.
y
Voz, C.
(
1970
) .
Tecnología electrónica de semiconductores orgánicos: fabricación de dispositivos en aulas docentes
.
.En: . ()
3.22
461
376
Echevarría, A.
,
Oleagordía, I.J.
,
Ortiz, J.
y
Sánchez, M.
(
1970
) .
Instrumentación programable vía GPIB para la caracterización y test de circuitos electrónicos
.
.En: . ()
2.86
552
275
Allende, M.A.
,
Bracho, S.
,
Martínez, M.
y
Mozuelos, R.
(
1970
) .
Laboratorio remoto de test: Caracterización de un convertidor analógico – digital
.
.En: . ()
2.86
579
374
Azcondo, J.
,
Brañas, C.
,
Salvador, F.
y
Valderrama, M.
(
1970
) .
Automatización de un banco de pruebas para la caracterización de balastos electrónicos y lámparas de descarga mediante LabView
.
.En: . ()
2.42
635
1535